Měření tenké vrstvy
Moderátor: Moderátoři
Měření tenké vrstvy
Instaluju měřák pro měření tenkých vrstev, tak jsem to zkusil.
Snímač je krystal 6MHz ve tvaru terčíku o průměru cca 14mm. Usazením vrstvičky materiálu se zvětší jeho hmotnost/tuhost a klesne frekvence, která je měřena na setiny Hz.
Na jeden pomalý rosný výdech klesne frekvence terčíku o 3kHz, což by (bez kalibrace) mohlo být 38 ug/cm2.
Po asi minutě, během které to schne, se frekvence vrací na původní hodnotu.
- Artaban001
- Příspěvky: 10090
- Registrován: 01 dub 2004, 00:00
- Bydliště: Pendrov
Nefunguje na podobným principu tzv "jódování krystalu" (když potřebuju snížit frekvenci sériově vyráběného krystalu), kdy se plnný jód naváže na stříbrný polepy na jodid stříbrný, tím se zvýší "hmotnost krystalu" a klesne mu kmitočet ?